芯片测试 思维题
问题描述 有n(2≤n≤20)块芯片,有好有坏,已知好芯片比坏芯片多。 每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时,能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时,会随机给出好或是坏的测试结果(即此结果与被测试芯片实际的好坏无关)。 给出所有芯片的测试结果,问哪些芯片是好芯片。 输入格式 输入数据第一行为一个整数n,表示芯片个数。 第二行到第n+1行为n*n的一张表,每行n个数据。表中的每个数据为0或1,在这n行中的第i行第j列(1≤i, j≤n)的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果,1表示好,0表示坏,i=j时一律为1(并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试)。 输出格式 按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号 样例输入 3 1 0 1 0 1 0 1 0 1 样例输出 1 3 思路 题目告诉我们超过一半是好的, 我们只需要看每个芯片,别的芯片对他的检测,如果0比1多那他肯定是坏的。 #include<iostream> #include<bits/stdc++.h> using namespace std ; int a[30][30] ; //我以后一定开全局变量,20分被扣了 bool st[30] ; int n ; int main() { cin>>n ; for ( int i=1 ; i<