芯片测试 思维题

时光毁灭记忆、已成空白 提交于 2020-02-28 21:38:42

问题描述
  有n(2≤n≤20)块芯片,有好有坏,已知好芯片比坏芯片多。
  每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时,能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时,会随机给出好或是坏的测试结果(即此结果与被测试芯片实际的好坏无关)。
  给出所有芯片的测试结果,问哪些芯片是好芯片。
输入格式
  输入数据第一行为一个整数n,表示芯片个数。
  第二行到第n+1行为n*n的一张表,每行n个数据。表中的每个数据为0或1,在这n行中的第i行第j列(1≤i, j≤n)的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果,1表示好,0表示坏,i=j时一律为1(并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试)。
输出格式
  按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号
样例输入
3
1 0 1
0 1 0
1 0 1
样例输出
1 3
思路 题目告诉我们超过一半是好的, 我们只需要看每个芯片,别的芯片对他的检测,如果0比1多那他肯定是坏的。

#include<iostream>
#include<bits/stdc++.h>
using namespace std;
	int a[30][30];//我以后一定开全局变量,20分被扣了
		bool st[30];
			int n;
int main()
{
	cin>>n;	
	for(int i=1;i<=n;i++)
	for(int j=1;j<=n;j++)
	{
	cin>>a[i][j];
	}
	for(int j=1;j<=n;j++)
	{
		int ct=0;
		for(int i=1;i<=n;i++)
		{
			if(a[i][j]==0&&i!=j) 
			ct++;
		}
		if(ct>=(n+1)/2)	st[j]=1;//如果超过半数	 1 0 0 0 1 1
	}
		for(int i=1;i<=n;i++)
		if(!st[i])
		cout << i << " ";
	
	return 0;	
}
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