CST微波工作室_数据后处理
1.仿真分析结果
- 直角坐标系下的 S 参数结果
- 史密斯圆图中显示的 S 参数结果
- 端口模式和相关参数（传播参数、阻抗等）
- 各种场分布（电场、磁场、功率流和表面电流）
- 动态显示场分布
- 辐射、散射问题的运区场分布（天线方向图、增益、方向性系数、RCS）
2.数据后处理
- 通过模板导出仿真分析结果，用于优化目标的定义
- 导出Touchstone 格式的 S 参数分析结果
- 导出ASCII 格式的场分析结果
- 导出近区场、远区场分析结果用作其他设计的场源激励
3.场监视器
4.查看分析结果
Excitation Signal： 查看激励信号，时域求解器有效
Field Monitor： 定义场监视器
1D Results： Port Signals——查看端口时域信号，S-Parameters——S参数，Reference Impedance——端口阻抗
2D/3D Results： Port Modes——端口模式和场分布，E-Fields——与定义的场监视器相关，查看预定义的场分布
Farfields： 查看远区场分析结果，如天线方向图，RCS等
5. 1D Results 显示
- 多种显示格式
- 直角坐标系、史密斯圆图、极坐标
- 实部、虚部、相位、幅度
- 线性、对数、设置标记点
6. 2D/3D Results 显示
7. Farfield显示
8. 数据后处理模板
- 对结果数据进一步的处理，并且在导航树下显示给出处理后的结果
- 优化设计时，通过该方式可以方便的定义目标函数
9. 分析结果的导入和导出
来源：oschina
链接：https://my.oschina.net/u/4418711/blog/4500643