试题 基础练习 芯片测试
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问题描述
有n(2≤n≤20)块芯片,有好有坏,已知好芯片比坏芯片多。
每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时,能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时,会随机给出好或是坏的测试结果(即此结果与被测试芯片实际的好坏无关)。
给出所有芯片的测试结果,问哪些芯片是好芯片。
输入格式
输入数据第一行为一个整数n,表示芯片个数。
第二行到第n+1行为n*n的一张表,每行n个数据。表中的每个数据为0或1,在这n行中的第i行第j列(1≤i, j≤n)的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果,1表示好,0表示坏,i=j时一律为1(并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试)。
输出格式
按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号
样例输入
3
1 0 1
0 1 0
1 0 1
样例输出
1 3
分析:
题目意思是:
好的测好的:1
好的测坏的:0
坏的测好的:1或0
坏的测坏的:1或0
总体上好的大于坏的
举个例子,假如我们有100个待测芯片,其中51个好的,49个坏的,我现在拿到一个好的,剩下的50个好的会测出来50个1,49个坏的会随机给出0或者1,最坏的情况给了49个0。可以看出,我们的被测物,只要得到的1不小于一半就可以说明,被测芯片是好的,输出这个芯片的编号即可。
按列遍历
AC代码:
"""
@Author:Lixiang
@Blog(个人博客地址): https://lixiang007.top/
@WeChat:18845312866
"""
while True:
try:
n = int(input())
s = []
for i in range(n):
s.append(input().split())
for i in range(0,n):
flag = 0
for j in range(n):
if s[j][i] == '1':
flag += 1
if flag >= n/2:
print(i+1,'',end='')
except:
break
来源:CSDN
作者:Li xiang007
链接:https://blog.csdn.net/weixin_43838785/article/details/104563780