ARM JTAG SWD SWO SWV
JTAG - Joint Test Action Group JTAG(Joint Test Action Group)联合测试行动小组)是一种国际标准测试协议(IEEE 1149.1兼容) Test Access Port and Boundary-Scan Architecture 主要用于芯片内部测试 及对系统进行仿真、调试。 现在多数的高级器件都支持JTAG协议,如DSP、FPGA器件等。 通常所说的JTAG大致分两类, 一类用于测试芯片的电气特性,检测芯片是否有问题; 一类用于Debug;一般支持JTAG的CPU内都包含了这两个模块。 一个含有JTAG Debug接口模块的CPU,只要时钟正常,就可以通过JTAG接口访问CPU的内部寄存器和挂在CPU总线上的设备 标准的JTAG接口是4线:TMS、 TCK、TDI、TDO,分别为模式选择、时钟、数据输入和数据输出线。 ARM系统的JTAG接口 接口是一个20脚的IDC插座。下表给出了具体的信号说明 序号 信号名 方向 说 明 1 Vref Input 接口电平参考电压,通常可直接接电源 2 Vsupply Input 电源 3 nTRST Output (可选项) JTAG复位。在目标端应加适当的上拉电阻以防止误触发。 4 GND -- 接地 5 TDI Output Test Data In from Dragon