EOS ESD
一、什麼是 EOS ? EOS 为 Electrical Over Stress 的缩写,指所有的过度电性应力。当外界电流或电压超过器件的最大规范条件时,器件性能会减弱甚至损坏。 EOS 通常产生于 1. 电源 (AC/DC) 干扰、电源杂讯和过电压。 2. 由于测试程式切换(热切换)导致的瞬变电流 / 峰值 / 低频干扰。其过程持续时间可能是几微秒到几秒(也可能是几纳秒),很短的 EOS 脉冲导致的损坏与 ESD 损坏相似。 3. 闪电。 4. 测试程式开关引起的瞬态 / 毛刺 / 短时脉冲波形干扰。 5. 测试设计欠佳,例如,在器件尚未加电或已超过其操作上限的情况下给器件发送测试信号。再比如在对器件供电之前加入测试信号,或超过最大操作条件。 6. 来自其他设备的脉冲信号干扰,即从其他装置发送的脉冲。 7. 不恰当的工作步骤,工作流程不甚合理 8. 接地点反跳(由于接地点不够导致电流快速转换引起高电压) 二、什麼是 ESD ? ESD 是英文 Electrical Static Discharge 的缩小,中文释为静电放电。电荷从一个物体转移到另一个物体。静电是一种客观的自然现象,产生的方式多种,如接触、摩擦等。静电的特点是高电压、低电量、小电流和作用时间短的特点。人体自身的动作或与其他物体的接触,分离,摩擦或感应等因素,可以产生几千伏甚至上万伏的静电。静电在多个领域造成严重危害